Pervaya v Rossii monografiya po samym sovremennym elektronnym elektro- i radioizmereniyam i izmeritelnym priboram, primenyaemym v nauchnyh issledovaniyah, testirovanii i ispytanii ustroystv i sistem mikroelektroniki i nanotehnologiy. Vpervye podrobno opisany sredstva izmereniy, primenyaemye v usloviyah krupnoseriynogo mikroelektronnogo proizvodstva, i pribory veduschih v ih razrabotke i proizvodstve firm: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S i dr. Osoboe vnimanie udeleno analizu i generatsii testovyh signalov, izmereniyu ih parametrov v oblasti malyh i sverhmalyh vremen, izmereniyu sverhmalyh tokov i napryazheniy, analizu impedansa i immitansa tsepey, izmereniyam staticheskih i dinamicheskih harakteristik poluprovodnikovyh priborov i integralnyh mikroshem i dr. YAvlyaetsya samym krupnym obzorom sovremennyh zarubezhnyh i otechestvennyh izmeritelnyh priborov na rynke Rossii i mira. Dlya inzhenerov, nauchnyh rabotnikov, aspirantov, prepodavateley i studentov vuzov i universitetov tehnicheskogo i klassicheskogo tipov.